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微波光電導(dǎo)衰減法-MDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀圖片
本圖片來(lái)自束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司提供的微波光電導(dǎo)衰減法-MDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀，型號(hào)為的半導(dǎo)體行業(yè)專(zhuān)用儀器，產(chǎn)地為德國(guó)，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶(hù)供應(yīng)高品質(zhì)的單晶硅片少子壽命測(cè)試儀-MDPspot臺(tái)式單點(diǎn)壽命檢測(cè)儀、熱釋光考古測(cè)定儀-lexsyg research科研型釋光儀等產(chǎn)品。束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)3年，工商信息已通過(guò)人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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