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安東帕 Zeta 電位創新獎重磅來襲！
準備好用最先進的分析儀器把您的研究推上新臺階了嗎？參與 Zeta 電位創新獎，您有機會贏得一臺采用突破性 cmPALS 技術的 Litesizer DLS 701 或者一臺用于表面 Zeta 電位分析的 SurPASS 3。
提交一份 A4 紙的創新構想，即有機會將價值百萬的頂尖分析儀器收入囊中！
獎項設置
兩大尖端儀器任選其一：
Litesizer DLS 701：納米顆粒粒徑、Zeta電位、分子量、顆粒濃度尖端測量儀器，突破性cmPALS技術將Zeta電位測量提升到了新的水平
SurPASS 3：固體表面Zeta電位測量的黃金標準，用于膜材料、半導體、高分子、生物材料等領域的Zeta電位、等電點測量
獲獎權益：
? 免費獲得所選儀器（每臺儀器各1名獲獎者）
? 在國際網絡研討會展示研究成果
? 入選安東帕全球成功案例，激勵更多科研同仁
參與方式
選擇儀器：
根據研究方向選擇最適合的分析利器
Litesizer DLS XX1
SurPASS 3
撰寫提案：用一頁A4紙說明
內容必須清晰闡述以下三點：
研究項目概述：簡明介紹您的研究背景、目標和當前面臨的挑戰。
儀器的影響：重點說明 Litesizer DLS XX1 或 SurPASS 3 將如何具體地助力您的工作？例如，它能解決什么現有技術無法解決的難題？或將為您的研究帶來哪些新的機遇？
技術獲益分析：詳細說明您期望從儀器的獨特技術（如Litesizer XX1的cmPALS 或 SurPASS 3 的流動電位測量技術）中獲得哪些具體、可量化的益處。
提交申請：
截止日期2026年3月31日
評審機制
由頂尖科學家組成的評審團將從：
科學價值
項目是否針對重要的科學問題或技術挑戰？
研究構想是否具有原創性和新穎性？
是否有可能推動該領域的知識邊界或技術進步？
項目可行性
申請提案是否充分且精準地闡述了所選儀器（Litesizer DLS XX1 或 SurPASS 3）在解決研究難題中的關鍵作用？
項目計劃是否切實可行，儀器的技術特性是否與研究目標高度匹配？
潛在影響力
研究成果可能對學術界、工業界或社會產生何種積極影響？
申請材料是否邏輯清晰、重點突出，在一頁A4紙內有效地傳達了核心思想？
通過三個維度對所有提交的材料進行評估，確保對每個申請提案進行公平且全面的評估。
為何參與
零成本獲得頂尖科研設備
向全球展示您的創新研究
成為靈感源泉，激勵全球科學家
儀器亮點
Litesizer DLS 701 納米粒度及Zeta電位分析儀：
三角度粒度測量，具備自動角度選擇和多角度聯合測量模式
專利cmPALS技術使Zeta電位測量的靈敏度和穩定性顯著提高
具有全面的測量功能，包括粒徑、Zeta電位、顆粒濃度、分子量、透射率、折光率
適用于蛋白、脂質體、微乳液，以及各類納米顆粒
SurPASS 3 固體表面電位儀：
流動電位測量技術領先業界
精準表征固體材料、膜和涂層
材料科學、膜技術研究的理想伙伴
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