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產(chǎn)品介紹
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表,憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能,可以對微納結(jié)構(gòu)進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量,在高校、研究實驗室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。
JS系列臺階儀通過金剛石探針與樣品表面的接觸掃描,將微觀輪廓的垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號,結(jié)合高靈敏度傳感器與信號處理算法,實現(xiàn)納米級精度的表面特征捕捉。其核心技術(shù)亮點在于超微壓力恒定控制系統(tǒng),通過精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力,既避免了對軟質(zhì)材料的損傷,又確保了測量過程的穩(wěn)定性。此外,設(shè)備搭載的攝像頭實時成像系統(tǒng),可同步觀察樣品區(qū)域與探針尖端的位置關(guān)系,輔助用戶精確定位特征結(jié)構(gòu),顯著提升測量效率。
作為國產(chǎn)科學(xué)儀器的突破性成果,JS系列臺階儀打破了國外品牌在高端表面測量設(shè)備領(lǐng)域的長期壟斷,憑借高性價比與本地化服務(wù)優(yōu)勢,成為國內(nèi)高校、科研機構(gòu)及制造企業(yè)的優(yōu)選設(shè)備。
特點
量測精確、功能豐富、一體式集成、模塊化設(shè)計、售后便捷、極高性價比
應(yīng)用范圍
▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量
▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測量
▲ 各式薄膜等應(yīng)力測量
▲ 3D掃描成像
▲ 計劃任務(wù)和多點掃描
▲ 批量測試晶圓,批量處理數(shù)據(jù)等
系統(tǒng)組成
▲ EFEM(LP+ROBOT+ALINGER)
▲ JS300B
選配品
▲ 高度校準標樣
▲ FFU模塊
▲ 靜電消除模塊
▲ E84接口
技術(shù)參數(shù)

軟件界面

掃描圖

18nm樣品

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